1200V/100A 반도체 파라미터 분석기 SPA6100 반도체 테스트 시스템

SPA6100 반도체 매개 변수 분석기는 높은 정확성, 넓은 측정 범위, 빠른 유연성 및 강력한 호환성 등 장점을 제공합니다.이 제품은 동류-전압 (I-V) 의 동시 테스트를 지원합니다., 용량-전압 (C-V) 및 고전류/고전압 조건에서 펄스 I-V 특성

모듈형 구조 설계로 사용자들은 테스트 요구 사항에 따라 시스템 업그레이드를 위해 측정 단위를 유연하게 선택하고 구성할 수 있습니다.분석기는 1200V 전압까지의 측정을 지원합니다., 100A 고전류 및 1pA 저전류 해상도, 또한 10kHz에서 1MHz 범위 내에서 다주파 AC 용량 측정을 가능하게합니다.

전용 반도체 매개 변수 테스트 소프트웨어로 장착되어 있으며, 대화형 수동 조작과 탐사 스테이션과 통합된 자동 조작을 지원합니다.이 시스템은 측정 설정에서 전체 작업 흐름을 효율화, 실행, 결과 분석 데이터 관리, 효율적이고 반복 가능한 장치 특성화를 가능하게합니다.고온/저온 테스트 요구 사항을 충족시키기 위해 온도 챔버 및 열 제어 모듈과 호환됩니다..

제품 특성

▪30μV~1200V, 1pA~100A 폭넓은 범위의 측정 능력
▪높은 측정 정확성, 전체 측정 범위에서 최대 0.03%를 달성
▪직접 호출 및 단순화된 테스트를 위한 기본 장치 테스트 프로그램
▪자동 실시간 매개 변수 추출, 데이터 그래핑 및 분석 기능
▪C-V 및 I-V 측정 사이를 재배선화 없이 빠르게 전환
▪강력한 호환성을 가진 유연한 장착 장치 사용자 정의 솔루션
▪무료 PC 기반 소프트웨어와 SCPI 명령어 세트 제공

제품 매개 변수

신청서

▪나노물질: 저항성, 운반기 이동성, 운반기 농도, 홀 전압

▪유연한 재료: 튼력 / 회전 / 굴곡 테스트, 전압 시간 (V-t), 전류 시간 (I-t), 저항 시간 (R-t), 저항성, 민감성

▪IC 칩: 오픈/코트 (O/S) 테스트, 입출력 고전류/하전류 (IIH/IIL), 출력 고전압/하전류 (VOH/VOL), I/O 핀 I-V 곡선

▪디스크리트 디바이스:BVDSS,IGSS,IDSS,Vgs ((th),Rdson,Ciss/Coss/Crss (입출력/반면 전송 용량),출력/전환/C-V 곡선.

▪광 탐지기: 암흑 전류 (ID), 연결 용량 (Ct), 역분열 전압 (VBR), 반응성 (R).

▪페로브스카이트 태양 전지:오픈 서킷 전압 (VOC), 단회로 전류 (ISC), 최대 전력 (Pmax), 최대 전력 전압 (Vmax), 최대 전력 전류 (Imax), 충전 요인 (FF), 효율성 (η),시리즈 저항 (Rs)셔트 저항 (Rsh)

▪LD/LED/OLED:운동 전류 (Iop), 광 전력 (Popt), 전압 (VF),임계 전류 (Ith), 역전압 (VR), 역전류 (IR), 광전류-전압 (LIV) 및 I-V-광 (IVL) 곡선

▪ 센서/메머리스토어:전압 시간 (V-t), 전류 시간 (I-t), 저항 시간 (R-t),DC/Pulse/AC IV 테스트