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제품 세부 정보

Created with Pixso. Created with Pixso. 상품 Created with Pixso.
다채널 테스트 장비
Created with Pixso. 3 슬롯 하위 카드 플러그 SMU 장치 1003C 소스 측정 장치

3 슬롯 하위 카드 플러그 SMU 장치 1003C 소스 측정 장치

브랜드 이름: PRECISE INSTRUMENT
모델 번호: CS1003C
MOQ: 1 단위
배달 시간: 2~8주
지불 조건: T/T
자세한 정보
원래 장소:
중국
슬롯 수:
3개 채널
통신 인터페이스:
RS-232, GPIB 및 이더넷 인터페이스
전원 사양:
AC 100-240V, 50/60Hz, 최대 전력 500W
크기(길이 * 너비 * 높이):
552mm × 482mm × 178mm
포장 세부 사항:
통.
공급 능력:
500개 세트 / 달
강조하다:

SMU 장치에 서브 카드 플러그

,

3 슬롯 SMU 단위

,

1003C 소스 측정 단위

제품 설명

3 슬롯 하위 카드 플러그 SMU 장치 1003C 소스 측정 장치

1003C 모듈형 차체는 고성능 애플리케이션을 위해 설계된 전문적인 수준의 테스트 솔루션입니다.과학 연구 및 산업 검증 시나리오에서 중요한 테스트 인프라로 사용됩니다.이 플랫폼은 구성 가능한 아키텍처를 통해 멀티 도메인 테스트 작업을 위해 효율적이고 플러그 앤 플레이 동작을 제공합니다.


제품 특성

모듈 확장: 멀티 서브카드 슬롯은 요구 사항에 따라 기능 모듈 조합을 가능하게합니다.

산업용 신뢰성: 다층 EMI 보호 및 지능형 열 관리로 인해 혹독한 환경 (-40°C ~ 85°C) 에서 안정적인 작동이 가능합니다.

하이 스피드 인터 커넥트: GPIB/Ethernet/USB 인터페이스가 통합된 경우 <1ms 데이터 동기화 지연을 달성합니다.

원활한 호환성: 빠른 테스트 루프 구성을 위해 Pusces CS/CBI 시리즈 서브 카드와 플러그 앤 플레이 통합.

정밀 동기화: 3Gbps 백플레인 대역폭과 16채널 트리거 버스, μs 수준 다채널 타이밍 정확도를 제공합니다.

 

제품 매개 변수

부문

매개 변수

슬롯의 수

3개의 채널

통신 인터페이스

DC 모드: 10nA4A/펄스 모드: 10nA30A

전원 공급 사양

DC 모드: 최대 40W/펄스 모드: 최대 400W

작동 환경 온도

25±10°C

차원 (길이 * 너비 * 높이)

552mm × 482mm × 178mm


신청서

분리 반도체 장치 특성 테스트, 저항, 다이오드, 광발광 다이오드, 제너 다이오드, PIN 다이오드, BJT 트랜지스터, MOSFET, SIC, GaN 및 기타 장치를 포함한다.

에너지 및 효율성 테스트,LED/AMOLED,태양전지,DC-DC 변환기 등

센서 특성 테스트, 저항성, 홀 효과 등

전자 잉크, 인쇄 전자 기술 등을 포함한 유기 물질 특성 검사

나노소재 특성 검사,그라펜,나노 와이어 등.



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3 슬롯 하위 카드 플러그 SMU 장치 1003C 소스 측정 장치

브랜드 이름: PRECISE INSTRUMENT
모델 번호: CS1003C
MOQ: 1 단위
포장에 대한 세부 사항: 통.
지불 조건: T/T
자세한 정보
원래 장소:
중국
브랜드 이름:
PRECISE INSTRUMENT
모델 번호:
CS1003C
슬롯 수:
3개 채널
통신 인터페이스:
RS-232, GPIB 및 이더넷 인터페이스
전원 사양:
AC 100-240V, 50/60Hz, 최대 전력 500W
크기(길이 * 너비 * 높이):
552mm × 482mm × 178mm
최소 주문 수량:
1 단위
포장 세부 사항:
통.
배달 시간:
2~8주
지불 조건:
T/T
공급 능력:
500개 세트 / 달
강조하다:

SMU 장치에 서브 카드 플러그

,

3 슬롯 SMU 단위

,

1003C 소스 측정 단위

제품 설명

3 슬롯 하위 카드 플러그 SMU 장치 1003C 소스 측정 장치

1003C 모듈형 차체는 고성능 애플리케이션을 위해 설계된 전문적인 수준의 테스트 솔루션입니다.과학 연구 및 산업 검증 시나리오에서 중요한 테스트 인프라로 사용됩니다.이 플랫폼은 구성 가능한 아키텍처를 통해 멀티 도메인 테스트 작업을 위해 효율적이고 플러그 앤 플레이 동작을 제공합니다.


제품 특성

모듈 확장: 멀티 서브카드 슬롯은 요구 사항에 따라 기능 모듈 조합을 가능하게합니다.

산업용 신뢰성: 다층 EMI 보호 및 지능형 열 관리로 인해 혹독한 환경 (-40°C ~ 85°C) 에서 안정적인 작동이 가능합니다.

하이 스피드 인터 커넥트: GPIB/Ethernet/USB 인터페이스가 통합된 경우 <1ms 데이터 동기화 지연을 달성합니다.

원활한 호환성: 빠른 테스트 루프 구성을 위해 Pusces CS/CBI 시리즈 서브 카드와 플러그 앤 플레이 통합.

정밀 동기화: 3Gbps 백플레인 대역폭과 16채널 트리거 버스, μs 수준 다채널 타이밍 정확도를 제공합니다.

 

제품 매개 변수

부문

매개 변수

슬롯의 수

3개의 채널

통신 인터페이스

DC 모드: 10nA4A/펄스 모드: 10nA30A

전원 공급 사양

DC 모드: 최대 40W/펄스 모드: 최대 400W

작동 환경 온도

25±10°C

차원 (길이 * 너비 * 높이)

552mm × 482mm × 178mm


신청서

분리 반도체 장치 특성 테스트, 저항, 다이오드, 광발광 다이오드, 제너 다이오드, PIN 다이오드, BJT 트랜지스터, MOSFET, SIC, GaN 및 기타 장치를 포함한다.

에너지 및 효율성 테스트,LED/AMOLED,태양전지,DC-DC 변환기 등

센서 특성 테스트, 저항성, 홀 효과 등

전자 잉크, 인쇄 전자 기술 등을 포함한 유기 물질 특성 검사

나노소재 특성 검사,그라펜,나노 와이어 등.